納米級(jí)長(zhǎng)度和位移測(cè)量是現(xiàn)平光學(xué)精密測(cè)量領(lǐng)域的重要基礎(chǔ)研究課題,在半導(dǎo)體疊對(duì)誤差測(cè)量、面內(nèi)精密對(duì)準(zhǔn)與跟蹤等方面具有關(guān)鍵作用。程高觸感測(cè)傳統(tǒng)的精度光學(xué)干涉儀雖然可以實(shí)現(xiàn)納米及亞納米的測(cè)量精度,但系統(tǒng)復(fù)雜、非接易受環(huán)境干擾。中科
中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)光電子科學(xué)與技術(shù)安徽省重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室微納光學(xué)與技術(shù)課題組教授王沛和副教授魯擁華在精密位移的光學(xué)感測(cè)研究方面取得新進(jìn)展,設(shè)計(jì)了一種光學(xué)超表面,將二維平面的位移信息映射為雙通道偏光干涉的光強(qiáng)變化,實(shí)現(xiàn)了平面內(nèi)任意移動(dòng)軌跡的大量程、高精度的非接觸感測(cè)。
此前,王沛、魯擁華課題組基于微納結(jié)構(gòu)光場(chǎng)調(diào)控技術(shù)發(fā)展出了一些位移感測(cè)技術(shù),實(shí)現(xiàn)了亞納米的測(cè)量精度。但是這些一維位移測(cè)量技術(shù)在跟蹤面內(nèi)移動(dòng)的應(yīng)用中需要克服裝配誤差,限制了測(cè)量的穩(wěn)定性和可靠性。為此,課題組進(jìn)一步提出了一種基于超表面光場(chǎng)調(diào)控的二維位移精密測(cè)量的光學(xué)新技術(shù)。他們?cè)O(shè)計(jì)了一種超表面,不僅可以實(shí)現(xiàn)二維的光學(xué)衍射,且能夠同時(shí)定制每個(gè)衍射級(jí)次光場(chǎng)的偏振態(tài),利用不同衍射級(jí)次組合的雙通道偏光干涉,同時(shí)記錄二維平面內(nèi)的任意位移。通過相位解算算法從雙通道偏光干涉光強(qiáng)中獲得高精度、大量程的二維位移信息。實(shí)驗(yàn)證明該位移測(cè)量技術(shù)的精度可以達(dá)到0.3納米,測(cè)量量程達(dá)到200微米以上。
研究人員介紹,該技術(shù)能夠同時(shí)測(cè)得二維位移信息,可有效被用于跟蹤二維平面內(nèi)的任意復(fù)雜運(yùn)動(dòng)。課題組相關(guān)研究工作拓展了光學(xué)超表面的應(yīng)用領(lǐng)域,提升了精密位移光學(xué)傳感技術(shù)的可靠性和集成度,展示了超表面光場(chǎng)調(diào)控能力對(duì)傳統(tǒng)光學(xué)技術(shù)的賦能作用。
相關(guān)研究成果High-precision two-dimensional displacement metrology based on matrix metasurface于近日在線發(fā)表于《SCIENCE ADVANCES(科學(xué)進(jìn)展)》
參考來源:中國(guó)科學(xué)報(bào)


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