ADMX2001是測量一款先進(jìn)的LCR測量模塊，在DC至10MHz范圍內(nèi)可實(shí)現(xiàn)超高精度。模塊其設(shè)計(jì)比典型儀器緊湊100倍，概述專為實(shí)驗(yàn)室、測量高密度系統(tǒng)、模塊傳感器評(píng)估等應(yīng)用量身定制。概述將為您的測量創(chuàng)新設(shè)計(jì)帶來出色的性能和精度。助力實(shí)現(xiàn)阻抗測量革新。模塊

測量模塊 EVAL-ADMX2001

ADMX2001是概述一種測量模塊，可簡化阻抗測量系統(tǒng)的測量開發(fā)過程或可用于增強(qiáng)現(xiàn)有測試平臺(tái)的功能。

通過使用高性能混合信號(hào)和處理算法，模塊ADMX2001可測量小至0.1fF的概述電容以及高達(dá)1GΩ的電阻值變化，這是測量測試半導(dǎo)體器件、電子元件和傳感器的模塊常見要求。此外，概述內(nèi)置測量算法使ADMX2001能夠提供采用多種格式的完全校準(zhǔn)復(fù)阻抗或?qū)Ъ{測量結(jié)果，包括電阻、電容和電感的并聯(lián)和串聯(lián)組合。

應(yīng)用

自動(dòng)化測試設(shè)備

半導(dǎo)體特性表征

晶圓驗(yàn)收測試

電阻抗譜

阻抗網(wǎng)絡(luò)分析

電池測試

審核編輯：湯梓紅